Ettevõtte uudised │ TANBOS SNEC'i fotovoltaiilse energiakonverentsil ja näituses (Shanghai)

13.-15. juunini toimus Shanghai Riiklikus Konverents- ja Näitustelkes 17. (2024) rahvusvaheline fotovooltaikaelektrijaamade ja intelligentse energiakonverents ning näitus. Kabeli ja üleminekuliini oleku hoiatussignaalide ja viga diagnostika seadmete tootja Tanbos esitas näituse pealkirjas laia valikut tooteid, mis hõlpsalt huvitas palju tööstuse spetsialiste ja külastajaid.

Kui maailma suurim fotovoltaiikide näitus, on SNEC alati tunnistatud fotovoltaiikide tööstuse arengu indikaatorina. See on muutunud enim mõjutavaks rahvusvaheliseks, spetsialistlikuks ja suurepärasesse skaala fotovoltaiikide sündmuseks Hiinas, Aasias ja ülemaailmuliselt. See SNEC näitus katab kogu fotovoltaiikide tööstuse, hõivates tootmise seadmeid, rakendusprodukte ja uusimaid energiatootmisega seotud tehnoloogiaid ning esitleb kõige edukamaid tehnoloogiaid ja lahendusi fotovoltaiikide ahela raames.

Näituse ajal oli Tanbos'i stannd täis inimesi, hõlmarudes suurt hulka kodumaisi ja välismaisi kasutajaid. Sellel kordel esitatud kaabeli jälgimise ja viga diagnostika seadmete rida tõmbas paljude spetsialistide huvi oma täpsete viga asukoha määramisega ja tõhusa varhast hoiatussüsteemiga. Need seadmed võivad jälgida kaabli tööolekut reaalajas, tuvastada ja ennetada potentsiaalseid elektrivigu ajakohaselt, ning nende edasi algoritmid ja tundmistehnoloogiad võivad täpselt tuvastada kaabli vigastatud kohta kohe, mis suurendab oluliselt hooldus-effektivsust ja süsteemi usaldusväärsust, tagades sellelt moedele energiaviijate effektiivse, turvalise ja pikaajalist stabiilset töötamist.

Tehnoloogiline innovatsioon on tööstuse arengu põhivõim. Tulevikus, silmitses uute olude ja nõuete ees, jätkab Tanbos innovatsiooni kui oma peamist arengukonseptsiooni, hoiab kiindlalt silmas tehnoloogilist uurimist ja arendust, loob pidevalt uusi tooteid, pakub maailma klientidele efektiivsemat ja ohutumat energiarestit, ning toetab digitaaltehnoloogiaga "kaks süsinik" eesmärki.